3D 计量 - 点传感器

Enovasense 点式传感器

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非接触式测量涂层厚度

Enovasense PS 借助易于集成的超紧凑型探头,对任何涂层材料的厚度进行精确的无损测量。

优势

  • 轻型光热辐射测量传感器,占地面积小

    Enovasense PS 传感器头重量仅为 150 g,尺寸为 35 x 35 x 64 mm,是在线检测应用中理想的轻量化、超紧凑型光热传感器。每个传感器头都有一个单独的控制器,可以集成到几乎任何狭小而紧凑的空间中。传感器头和控制器之间的电缆最长可达 20 米。此外,探头没有移动部件,使得集成无需任何维护。

  • 高精度测量任何涂层层

    精确而稳定的厚度测量可以用于任何类型的涂层和基材材料 – 扩散涂层或反射涂层、平面涂层或曲面涂层、粗糙涂层或抛光涂层 – 以及任何表面,例如镜面、未加工金属面、陶瓷或粘合剂表面。可测量的厚度范围从纳米到毫米,且多年来保持亚微米级测量稳定性。

  • 通用性极强的点传感器系列

    两种尺寸的传感器头 – 紧凑型 T033 和超紧凑型 T060 – 都有不同的成角激光束,垂直于探头长度进行测量。此外,各种光学前置镜片可实现从 0.3mm 到 12mm 的各种工作距离和激光测量光斑直径。在 T033 测量头上,可以放置特定的长距离物镜,使工作距离增加到 200 mm,距离公差增加到 ±50 mm。

  • 轻松集成到任何工业环境中

    这种无损非辐射技术可进行低对齐操作的测量。Enovasense point sensor 的标称距离公差可达 ±50mm(测量头的特殊配置),角度公差可达 ±50°,具有独特的易集成性。该传感器对振动和部件曲率与形状的变化表现出高度的稳定性。该传感器还可以在非常高的温度下测量部件,适用于高达 +50°C 的室温。

  • 易于使用、即插即用的应用软件

    传感器配备的直观型软件供您在任何涂层应用程序上快速配置和校准传感器。特定的应用程序允许在执行一系列测量的同时计算统计数据。也可以由外部 PLC 通过 Modbus 以太网连接收集数据流量。

技术数据

  • 测量范围:0.01–1000µm*
  • 测量重复性:测量厚度的 < 1% *
  • 每秒测量频率:1 Hz 至100 Hz
  • Enovasense PS 接口:以太网

*具体取决于涂层材料

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