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Interferometrie an Seifenblasen

干涉测量

精确的厚度和距离测量

干涉仪工作原理

 

当同一光源的两个或多个路径长度稍有不同的光束叠加时,干涉仪可以利用此时产生的效应工作。

 

所产生的光谱及其调制频率包含了距离或层厚数据,具体情况取决于系统应用的测量任务。

 

通过计算光谱的傅里叶变换,可以确定速度达 70 kHz 的测量。干涉测量法适用于大面积测量,因为测量的精度不受与物体的距离的影响。

 

 

干涉型传感器的优势

  • 高速在线检测,最高可达 70 kHz。
  • 不受高温、潮湿或震动条件的影响,因此适用于恶劣的工业环境,即使在水、油或酸等液体中也没有问题
  • 适用于质量保障、表面和厚度测量
  • 光学技术是可以测量多层夹层玻璃的独特方案
  • 对 0.6 - 15,000 µm 的厚度测量很精确
  • 适合红外透射材料的厚度测量,例如在晶片检查过程中的测量。
  • 静态或移动测量点 
  • 无源光学探头 —— 结构紧凑且无源、无磨损、无撕裂

如果您想了解有关干涉型传感器的更多优势,请参阅我们的产品详情页面。

干涉型传感器

CHRocodile 2 IT

  • 速度快
  • 测量范围大
  • 适用于不同表面
  • 完全符合用户需求的探头

CHRocodile 2 K

  • 塑料壁厚测量
  • 高精确度
  • 紧凑型设计
  • 完全符合用户需求的探头

Flying Spot Scanner:飞点扫描器

  • 取代 X-Y 移动系统
  • 用户可为任何材料设置个性化扫描路径
  • 节省时间和成本

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