

精确的厚度和距离测量
干涉仪工作原理

当同一光源的两个或多个路径长度稍有不同的光束叠加时,干涉仪可以利用此时产生的效应工作。
所产生的光谱及其调制频率包含了距离或层厚数据,具体情况取决于系统应用的测量任务。
通过计算光谱的傅里叶变换,可以确定速度达 70 kHz 的测量。干涉测量法适用于大面积测量,因为测量的精度不受与物体的距离的影响。


干涉型传感器的优势
- 高速在线检测,最高可达 70 kHz。
 - 不受高温、潮湿或震动条件的影响,因此适用于恶劣的工业环境,即使在水、油或酸等液体中也没有问题
 - 适用于质量保障、表面和厚度测量
 - 光学技术是可以测量多层夹层玻璃的独特方案
 - 对 0.6 - 15,000 µm 的厚度测量很精确
 - 适合红外透射材料的厚度测量,例如在晶片检查过程中的测量。
 - 静态或移动测量点
 - 无源光学探头 —— 结构紧凑且无源、无磨损、无撕裂
 
如果您想了解有关干涉型传感器的更多优势,请参阅我们的产品详情页面。
 
 
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