测量层厚和台阶高度的二合一解决方案
对于不透明材料的双面厚度测量，或较厚透明材料无法用单个探头进行厚度测量的情况，CHRocodile 2 DPS 是一种理想选择。
优势
- 成本效益高
对于不透明材料的台阶高度和多层测量以及厚度测量，CHRocodile 2 DPS 在一个设备中集成了两个单独的测量通道。因此这种工具占地面积更小、易于集成到生产环境中，且确保了较高的成本效益。 - 直接读取结果
嵌入式处理器从两个测量通道获取信号，然后同步并自动参考数据，最后显示所需厚度或台阶高度测量值，无需进行后期处理。凭借种种优势，CHRocodile 2 DPS 是不透明材料双面厚度、台阶高度测量或厚度超过单个探头测量范围的多层厚度测量的理想选择。 - 应用领域广泛
- CHRocodile 2 DPS 与各种白光共焦光学探头兼容，确保每通道 10kHz 的测量速率，且具有以下优势：接口多、反射数值孔径最高达 45°、分散表面数值孔径最高达 80°、轴向和横向高分辨率，以及测量范围在 100 µm 至 35 mm 之间。
- 完全符合用户需求的光学探头
每个单点传感器由一个控制器、一根光纤和一个光学探头组成。我们从大量光学探头中精心选择，确保定制解决方案满足客户要求。点击此处下载白光共焦探头产品列表。
技术数据
- 测量速度：每通道可达 10kHz/s
- 白光测量范围：取决于选择的光学探头
- 分辨率：3 × 10-6 × 测量范围上限；可按要求提高分辨率
- 与外部设备同步：触发输入，同步输出，5 个编码器输入
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